Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Satria G. · Відгук надано більше 1 року тому

Bedatroyee B. · Відгук надано більше 1 року тому

Ram G. · Відгук надано більше 1 року тому

Sakshi O. · Відгук надано більше 1 року тому

Diljith k. · Відгук надано більше 1 року тому

Namra V. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Ammara P. · Відгук надано більше 1 року тому

ff

qlab j. · Відгук надано більше 1 року тому

Prachi S. · Відгук надано більше 1 року тому

Phabindra Kumar S. · Відгук надано більше 1 року тому

Nandish M. · Відгук надано більше 1 року тому

Kartik G. · Відгук надано більше 1 року тому

G A. · Відгук надано більше 1 року тому

VENKATESWARA RAO B. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

Shivam K. · Відгук надано більше 1 року тому

done

Satyam R. · Відгук надано більше 1 року тому

Hemanth kumar Reddy J. · Відгук надано більше 1 року тому

Vanshika P. · Відгук надано більше 1 року тому

Vanshika Devdatta P. · Відгук надано більше 1 року тому

Thirumalesh B. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Anugrah G. · Відгук надано більше 1 року тому

Vishal M. · Відгук надано більше 1 року тому

RAJNI P. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Mayur P. · Відгук надано більше 1 року тому

Sabittwa B. · Відгук надано більше 1 року тому