Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Anirudh Pratap S. · Відгук надано більше 1 року тому

Deep Kumar G. · Відгук надано більше 1 року тому

Yogesh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Pritam A. · Відгук надано більше 1 року тому

SACHIN S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rajsing P. · Відгук надано більше 1 року тому

Kratika G. · Відгук надано більше 1 року тому

Prasad K. · Відгук надано більше 1 року тому

RAJ S. · Відгук надано більше 1 року тому

Om D. · Відгук надано більше 1 року тому

Sradha G. · Відгук надано більше 1 року тому

Kartik J. · Відгук надано більше 1 року тому

Shivang P. · Відгук надано більше 1 року тому

RAHUL R. · Відгук надано більше 1 року тому

VRUSHABH P. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash P. · Відгук надано більше 1 року тому

Khushi G. · Відгук надано більше 1 року тому

UTKARSH B. · Відгук надано більше 1 року тому

Vinayak Kumar S. · Відгук надано більше 1 року тому

Razia K. · Відгук надано більше 1 року тому

Erik Feri F. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

SWARNENDU G. · Відгук надано більше 1 року тому

Sai Sanjibani N. · Відгук надано більше 1 року тому

great labs

Navneet K. · Відгук надано більше 1 року тому

Pravesh T. · Відгук надано більше 1 року тому