Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Harsh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashutosh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Lekhit P. · Відгук надано більше 1 року тому

Aanchal J. · Відгук надано більше 1 року тому

Kushagra G. · Відгук надано більше 1 року тому

Shah Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Sagar S. · Відгук надано більше 1 року тому

T3ch M. · Відгук надано більше 1 року тому

areej a. · Відгук надано більше 1 року тому

Rishav Raj G. · Відгук надано більше 1 року тому

Sheetal C. · Відгук надано більше 1 року тому

Tejas G. · Відгук надано більше 1 року тому

Mayur P. · Відгук надано більше 1 року тому

Madhavan V. · Відгук надано більше 1 року тому

Amol C. · Відгук надано більше 1 року тому

Dheeraj R. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohd. Z. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

DEBLINA D. · Відгук надано більше 1 року тому

Rani C. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya P. · Відгук надано більше 1 року тому

gn

K V. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Sudeshna P. · Відгук надано більше 1 року тому

Muskaan D. · Відгук надано більше 1 року тому

Arushi A. · Відгук надано більше 1 року тому