Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Nikita t. · Відгук надано більше 1 року тому

Ansh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Mansi S. · Відгук надано більше 1 року тому

uday c. · Відгук надано більше 1 року тому

Sangeetha G. · Відгук надано більше 1 року тому

Anitha Rani K. · Відгук надано більше 1 року тому

Rishabh V. · Відгук надано більше 1 року тому

Madirakshi J. · Відгук надано більше 1 року тому

Tirth M. · Відгук надано більше 1 року тому

Vijay S. · Відгук надано більше 1 року тому

Subhas M. · Відгук надано більше 1 року тому

Anitha Rani K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikita N. · Відгук надано більше 1 року тому

RISHAV K. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

Bipin C. · Відгук надано більше 1 року тому

KRUTIKA T. · Відгук надано більше 1 року тому

Partha Sarathi M. · Відгук надано більше 1 року тому

Debayani D. · Відгук надано більше 1 року тому

uday r. · Відгук надано більше 1 року тому

Tejas K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sai Sanjibani N. · Відгук надано більше 1 року тому

Arkajyoti N. · Відгук надано більше 1 року тому

gn

K V. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammad A. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaishnavi S. · Відгук надано більше 1 року тому