Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Tripti T. · Відгук надано більше 1 року тому

Indranil P. · Відгук надано більше 1 року тому

SACHIN S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohini K. · Відгук надано більше 1 року тому

PADALA A. · Відгук надано більше 1 року тому

ok

ANUSHKA B. · Відгук надано більше 1 року тому

very good lab

Jiban das D. · Відгук надано більше 1 року тому

Jaimit T. · Відгук надано більше 1 року тому

MAYUR M. · Відгук надано більше 1 року тому

Dipen patel A. · Відгук надано більше 1 року тому

Lokesh M. · Відгук надано більше 1 року тому

Het L. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Mihir J. · Відгук надано більше 1 року тому

Gungun V. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash H. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Sakshi S. · Відгук надано більше 1 року тому

Keshav S. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Pasumarthi G. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash H. · Відгук надано більше 1 року тому

Adhithya A. · Відгук надано більше 1 року тому

Shouvanik S. · Відгук надано більше 1 року тому

Vikhash T. · Відгук надано більше 1 року тому

Darpan J. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaishnav P. · Відгук надано більше 1 року тому

B K Yuva kumar K. · Відгук надано більше 1 року тому