Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Jeet G. · Відгук надано більше 1 року тому

Rijubrata K. · Відгук надано більше 1 року тому

Thaduri P. · Відгук надано більше 1 року тому

IQBAL K. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

Imran S. · Відгук надано більше 1 року тому

Kartik D. · Відгук надано більше 1 року тому

Ritesh S. · Відгук надано більше 1 року тому

AWESOME

SHIVAM K. · Відгук надано більше 1 року тому

Riya A. · Відгук надано більше 1 року тому

AWESOME

SHIVAM K. · Відгук надано більше 1 року тому

Maulida K. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Kanishka G. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhanush K. · Відгук надано більше 1 року тому

anindita s. · Відгук надано більше 1 року тому

Anindita S. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Siddhant N. · Відгук надано більше 1 року тому

Satyam p. · Відгук надано більше 1 року тому

Ushnik N. · Відгук надано більше 1 року тому

Rishita M. · Відгук надано більше 1 року тому

PRATIK P. · Відгук надано більше 1 року тому

Lipsa Priyadarshini M. · Відгук надано більше 1 року тому

Paras R. · Відгук надано більше 1 року тому

pavan k. · Відгук надано більше 1 року тому

Yadhukrishnan R. · Відгук надано більше 1 року тому

Debanga K. · Відгук надано більше 1 року тому