Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Pranali P. · Відгук надано більше 1 року тому

Rahul D. · Відгук надано більше 1 року тому

Khushi B. · Відгук надано більше 1 року тому

Yashvi N. · Відгук надано більше 1 року тому

Ishita S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rittam D. · Відгук надано більше 1 року тому

Rittam D. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohan G. · Відгук надано більше 1 року тому

Manish S. · Відгук надано більше 1 року тому

TIYASHA M. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashwin P. · Відгук надано більше 1 року тому

Tej M. · Відгук надано більше 1 року тому

Krishna G. · Відгук надано більше 1 року тому

Lukman A. · Відгук надано більше 1 року тому

Sathi G. · Відгук надано більше 1 року тому

SRIDHARAN S. · Відгук надано більше 1 року тому

Raj s. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhiman P. · Відгук надано більше 1 року тому

Saksham S. · Відгук надано більше 1 року тому

Jitendra S. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Prasad P. · Відгук надано більше 1 року тому

Harish G. · Відгук надано більше 1 року тому

Satwinder K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikhil G. · Відгук надано більше 1 року тому

Prince B. · Відгук надано більше 1 року тому