Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Jay Prakash C. · Відгук надано більше 1 року тому

Soumyadeep M. · Відгук надано більше 1 року тому

Soumalya H. · Відгук надано більше 1 року тому

Lakshmi Saran P. · Відгук надано більше 1 року тому

Shyam S. · Відгук надано більше 1 року тому

Kushagra S. · Відгук надано більше 1 року тому

Arohan A. · Відгук надано більше 1 року тому

Bibetro P. · Відгук надано більше 1 року тому

Sajid T. · Відгук надано більше 1 року тому

Sudhanshu G. · Відгук надано більше 1 року тому

Shriya M. · Відгук надано більше 1 року тому

vinay g. · Відгук надано більше 1 року тому

Ayush S. · Відгук надано більше 1 року тому

Palash D. · Відгук надано більше 1 року тому

Gouri D. · Відгук надано більше 1 року тому

Get Up A. · Відгук надано більше 1 року тому

umar k. · Відгук надано більше 1 року тому

Hasib P. · Відгук надано більше 1 року тому

Shahina M. · Відгук надано більше 1 року тому

Sumit L. · Відгук надано більше 1 року тому

vivek c. · Відгук надано більше 1 року тому

mafyul i. · Відгук надано більше 1 року тому

Rahul K. · Відгук надано більше 1 року тому

Abiodun T. · Відгук надано більше 1 року тому

Erik S. · Відгук надано більше 1 року тому