Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Very Satisfied!

Syed Z. · Відгук надано більше 1 року тому

sofi s. · Відгук надано більше 1 року тому

Minenhle N. · Відгук надано більше 1 року тому

Soham G. · Відгук надано більше 1 року тому

Debjit K. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashish kumar S. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanay B. · Відгук надано більше 1 року тому

Hrishav D. · Відгук надано більше 1 року тому

Mithesh p. · Відгук надано більше 1 року тому

Pranay R. · Відгук надано більше 1 року тому

vishnu K. · Відгук надано більше 1 року тому

Kamlesh P. · Відгук надано більше 1 року тому

PINAKI S. · Відгук надано більше 1 року тому

PRABHAT S. · Відгук надано більше 1 року тому

Jishanahmed S. · Відгук надано більше 1 року тому

Anuradha S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohit C. · Відгук надано більше 1 року тому

ALAN SANDEEP C. · Відгук надано більше 1 року тому

Harsh S. · Відгук надано більше 1 року тому

YERASANI N. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohak S. · Відгук надано більше 1 року тому

Bhairu S. · Відгук надано більше 1 року тому

MUKESH MANOJA R. · Відгук надано більше 1 року тому

Romantic C. · Відгук надано більше 1 року тому

Sk Naser H. · Відгук надано більше 1 року тому