Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Prince G. · Відгук надано більше 1 року тому

SEN S. · Відгук надано більше 1 року тому

04 A. · Відгук надано більше 1 року тому

Ankita K. · Відгук надано більше 1 року тому

Aurora Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreya K. · Відгук надано більше 1 року тому

Pratik S. · Відгук надано більше 1 року тому

Wiyan Herra H. · Відгук надано більше 1 року тому

Sachin P. · Відгук надано більше 1 року тому

Kanda Putra H. · Відгук надано більше 1 року тому

Gajavelli T. · Відгук надано більше 1 року тому

Biswasundar B. · Відгук надано більше 1 року тому

Satyam G. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhanush K. · Відгук надано більше 1 року тому

Akki V. · Відгук надано більше 1 року тому

Reshu Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice Lab

Ansh P. · Відгук надано більше 1 року тому

YASHWANT N. · Відгук надано більше 1 року тому

Murthy P. · Відгук надано більше 1 року тому

Riya K. · Відгук надано більше 1 року тому

muhammad f. · Відгук надано більше 1 року тому

M P. · Відгук надано більше 1 року тому

Harshit M. · Відгук надано більше 1 року тому

Sajad p. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanvi H. · Відгук надано більше 1 року тому