Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

K VENKATA SAI H. · Відгук надано більше 1 року тому

Krishna G. · Відгук надано більше 1 року тому

Clemira A. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya G. · Відгук надано більше 1 року тому

23222075 L. · Відгук надано більше 1 року тому

Harper G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ishwari M. · Відгук надано більше 1 року тому

vishwa s. · Відгук надано більше 1 року тому

Gua D. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhijeet M. · Відгук надано більше 1 року тому

smita b. · Відгук надано більше 1 року тому

Preeti D. · Відгук надано більше 1 року тому

Prateek A. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikhil W. · Відгук надано більше 1 року тому

Sharvari B. · Відгук надано більше 1 року тому

Kalyani D. · Відгук надано більше 1 року тому

PAJJURU K. · Відгук надано більше 1 року тому

ASHISH K. · Відгук надано більше 1 року тому

Rutuja I. · Відгук надано більше 1 року тому

Irfan A. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhasin K. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshaya G. · Відгук надано більше 1 року тому

SATYAM K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sagar C. · Відгук надано більше 1 року тому

beerendrasai G. · Відгук надано більше 1 року тому