Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

good lab

dharshan B. · Відгук надано більше 1 року тому

Mithilesh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sai Ganesh C. · Відгук надано більше 1 року тому

Narayanan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Aslam thowfik. S 2. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammed Shamil C. · Відгук надано більше 1 року тому

Rafiq A. · Відгук надано більше 1 року тому

Prima S. · Відгук надано більше 1 року тому

Omkar M. · Відгук надано більше 1 року тому

Pragadheeshwari S. · Відгук надано більше 1 року тому

ccm G. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

VISHAL G. · Відгук надано більше 1 року тому

Rakshit N. · Відгук надано більше 1 року тому

shalu p. · Відгук надано більше 1 року тому

kausik p. · Відгук надано більше 1 року тому

Debanjali S. · Відгук надано більше 1 року тому

Swastika P. · Відгук надано більше 1 року тому

Neno A. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

DENIS KENLLY A. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Denis A. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Denis A. · Відгук надано більше 1 року тому

mihir v. · Відгук надано більше 1 року тому

SASWATI ANUPAMA M. · Відгук надано більше 1 року тому

samarth M. · Відгук надано більше 1 року тому

Hritika B. · Відгук надано більше 1 року тому