Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Om M. · Відгук надано більше 1 року тому

Anshuman S. · Відгук надано більше 1 року тому

Turiya D. · Відгук надано більше 1 року тому

Partha Protim U. · Відгук надано більше 1 року тому

ummul q. · Відгук надано більше 1 року тому

Adithyan J. · Відгук надано більше 1 року тому

Nai H. · Відгук надано більше 1 року тому

Jishnu M. · Відгук надано більше 1 року тому

Rahul C. · Відгук надано більше 1 року тому

Adrija S. · Відгук надано більше 1 року тому

Kunal G. · Відгук надано більше 1 року тому

Prajakta Kapote G. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

UTTAM S. · Відгук надано більше 1 року тому

Navya G. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

King G. · Відгук надано більше 1 року тому

Tech T. · Відгук надано більше 1 року тому

Satatya M. · Відгук надано більше 1 року тому

MANAV B. · Відгук надано більше 1 року тому

shravani k. · Відгук надано більше 1 року тому

Nivesh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Areta V. · Відгук надано більше 1 року тому

Anamithra K. · Відгук надано більше 1 року тому

SUBHASMIT D. · Відгук надано більше 1 року тому

Juara G. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Sharfeena S. · Відгук надано більше 1 року тому