Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Wazir Qorni A. · Відгук надано більше 1 року тому

Rizky F. · Відгук надано більше 1 року тому

Madhuri P. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad Bahyul A. · Відгук надано більше 1 року тому

Anirban B. · Відгук надано більше 1 року тому

Andika F. · Відгук надано більше 1 року тому

Lakshya P. · Відгук надано більше 1 року тому

Dummy S. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhruvi P. · Відгук надано більше 1 року тому

Melani A. · Відгук надано більше 1 року тому

Mukkamalla R. · Відгук надано більше 1 року тому

Soham S. · Відгук надано більше 1 року тому

BHAVYA R. · Відгук надано більше 1 року тому

Viren R. · Відгук надано більше 1 року тому

Prinanshu A. · Відгук надано більше 1 року тому

Marholop S. · Відгук надано більше 1 року тому

Muchamad Nur I. · Відгук надано більше 1 року тому

faidhol a. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Arnab d. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Challenge

Syahid M. · Відгук надано більше 1 року тому

Fahrizal S. · Відгук надано більше 1 року тому

Novita A. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad F. · Відгук надано більше 1 року тому

Vivi Alfiana U. · Відгук надано більше 1 року тому

Ayush S. · Відгук надано більше 1 року тому