Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Christian A. · Відгук надано більше 1 року тому

Dimas S. · Відгук надано більше 1 року тому

Nithin T. · Відгук надано більше 1 року тому

Vandanapu Dilip K. · Відгук надано більше 1 року тому

E59_Divya K. · Відгук надано більше 1 року тому

Rahardyan P. · Відгук надано більше 1 року тому

Sanskruti W. · Відгук надано більше 1 року тому

Andika F. · Відгук надано більше 1 року тому

Angga A. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad Rifai S. · Відгук надано більше 1 року тому

Gayatri C. · Відгук надано більше 1 року тому

NUR A. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Samruddhi P. · Відгук надано більше 1 року тому

Omkar K. · Відгук надано більше 1 року тому

Ach. Arif S. · Відгук надано більше 1 року тому

Pawan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Listi F. · Відгук надано більше 1 року тому

jay y. · Відгук надано більше 1 року тому

Daivik S. · Відгук надано більше 1 року тому

Dicky I. · Відгук надано більше 1 року тому

good course

Muhammad A. · Відгук надано більше 1 року тому

Kiki P. · Відгук надано більше 1 року тому

SRUJAL P. · Відгук надано більше 1 року тому

SUDHEER K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sy_A_57_Vedanshi_ S. · Відгук надано більше 1 року тому