Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Herdiansyah Yusuf I. · Відгук надано більше 1 року тому

Akash C. · Відгук надано більше 1 року тому

Sushmita G. · Відгук надано більше 1 року тому

Gobinda H. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreyosree R. · Відгук надано більше 1 року тому

Shirish K. · Відгук надано більше 1 року тому

DEVANSH B. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreyosree R. · Відгук надано більше 1 року тому

Shirish K. · Відгук надано більше 1 року тому

SUBHAM P. · Відгук надано більше 1 року тому

Mudji S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohit G. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanzil H. · Відгук надано більше 1 року тому

Kuldeep K. · Відгук надано більше 1 року тому

SHRUTI N. · Відгук надано більше 1 року тому

Shruti J. · Відгук надано більше 1 року тому

KEVIN I. · Відгук надано більше 1 року тому

Joel M. · Відгук надано більше 1 року тому

Sanchi J. · Відгук надано більше 1 року тому

Palash B. · Відгук надано більше 1 року тому

Sunita J. · Відгук надано більше 1 року тому

Leo M. · Відгук надано більше 1 року тому

Tarique A. · Відгук надано більше 1 року тому

Avadhi J. · Відгук надано більше 1 року тому

Avadhi J. · Відгук надано більше 1 року тому