Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Annisa S. · Відгук надано більше 1 року тому

Furqan R. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Bhawna N. · Відгук надано більше 1 року тому

Shirish K. · Відгук надано більше 1 року тому

Tejas N. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammed S. · Відгук надано більше 1 року тому

muluka r. · Відгук надано більше 1 року тому

Ishika J. · Відгук надано більше 1 року тому

Hurt E. · Відгук надано більше 1 року тому

Naholi C. · Відгук надано більше 1 року тому

Rongrong W. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaishnavi B. · Відгук надано більше 1 року тому

MUKILAN B. · Відгук надано більше 1 року тому

Prerna M. · Відгук надано більше 1 року тому

Yana G. · Відгук надано більше 1 року тому

237_Alif A. · Відгук надано більше 1 року тому

alwi A. · Відгук надано більше 1 року тому

Avanthika C. · Відгук надано більше 1 року тому

Sangram S. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Jayesh B. · Відгук надано більше 1 року тому

Rutuja K. · Відгук надано більше 1 року тому

ADARSH K. · Відгук надано більше 1 року тому

Siddhesh C. · Відгук надано більше 1 року тому

Shebin T. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya J. · Відгук надано більше 1 року тому