Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Alwin S. · Відгук надано більше 1 року тому

Nanang Hendy S. · Відгук надано більше 1 року тому

Anushka Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Nanang H. · Відгук надано більше 1 року тому

Bruce W. · Відгук надано більше 1 року тому

Willy R. · Відгук надано більше 1 року тому

Kesava satya vara prasad babu K. · Відгук надано більше 1 року тому

Jaya H. · Відгук надано більше 1 року тому

Avdesh .. · Відгук надано більше 1 року тому

Aryanda R. · Відгук надано більше 1 року тому

Pratik G. · Відгук надано більше 1 року тому

Rijiya S. · Відгук надано більше 1 року тому

Surya P. · Відгук надано більше 1 року тому

Arnav B. · Відгук надано більше 1 року тому

Harsh R. · Відгук надано більше 1 року тому

Edwin C. · Відгук надано більше 1 року тому

Shaily F. · Відгук надано більше 1 року тому

Ninja G. · Відгук надано більше 1 року тому

Sanjana D. · Відгук надано більше 1 року тому

Kahlon c. · Відгук надано більше 1 року тому

Akash S. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Krishna sai D. · Відгук надано більше 1 року тому

24F1001940 M. · Відгук надано більше 1 року тому

PRIYADARSHINI R. · Відгук надано більше 1 року тому

Himanshu D. · Відгук надано більше 1 року тому