Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Anandu S. · Відгук надано більше 1 року тому

Somnath G. · Відгук надано більше 1 року тому

Kaniska M. · Відгук надано більше 1 року тому

Kaustab C. · Відгук надано більше 1 року тому

Rahi P. · Відгук надано більше 1 року тому

apurva p. · Відгук надано більше 1 року тому

RAVI KIRAN L. · Відгук надано більше 1 року тому

arief s. · Відгук надано більше 1 року тому

Sbb G. · Відгук надано більше 1 року тому

nice lab

YJ H. · Відгук надано більше 1 року тому

Lekhit P. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad H. · Відгук надано більше 1 року тому

arief s. · Відгук надано більше 1 року тому

Jerry K. · Відгук надано більше 1 року тому

Agil F. · Відгук надано більше 1 року тому

ADITYA P. · Відгук надано більше 1 року тому

Lekhit P. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Player 2. · Відгук надано більше 1 року тому

Aayush K. · Відгук надано більше 1 року тому

Novy Any W. · Відгук надано більше 1 року тому

abhimanyu s. · Відгук надано більше 1 року тому

PRAJEET M. · Відгук надано більше 1 року тому

PADMAKHEE C. · Відгук надано більше 1 року тому

Padmakhee C. · Відгук надано більше 1 року тому