Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Alok Ranjan T. · Відгук надано більше 1 року тому

surya p. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhimas Sena R. · Відгук надано більше 1 року тому

Sameeha F. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad Zachrie K. · Відгук надано більше 1 року тому

Pragya S. · Відгук надано більше 1 року тому

Bintang N. · Відгук надано більше 1 року тому

Harry L. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhrumil B. · Відгук надано більше 1 року тому

Ahmed N. · Відгук надано більше 1 року тому

madhav d. · Відгук надано більше 1 року тому

Saptarshi M. · Відгук надано більше 1 року тому

Padmalochan P. · Відгук надано більше 1 року тому

ANDIKA F. · Відгук надано більше 1 року тому

Anggraito W. · Відгук надано більше 1 року тому

CHIKOTI S. · Відгук надано більше 1 року тому

Danil Haiqal A. · Відгук надано більше 1 року тому

khozin a. · Відгук надано більше 1 року тому

badri o. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohan M. · Відгук надано більше 1 року тому

Hiren P. · Відгук надано більше 1 року тому

Fajar A. · Відгук надано більше 1 року тому

V.S.Monish K. · Відгук надано більше 1 року тому

Evan A. · Відгук надано більше 1 року тому

Leontinus Y. · Відгук надано більше 1 року тому