Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Mayur N. · Відгук надано більше 1 року тому

Nitin K. · Відгук надано більше 1 року тому

Omkar P. · Відгук надано більше 1 року тому

22-041 MUHAMMAD S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sarah A. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

Atharva D. · Відгук надано більше 1 року тому

SREERAJ K G. · Відгук надано більше 1 року тому

Naveen R. · Відгук надано більше 1 року тому

Nisfu Asrul S. · Відгук надано більше 1 року тому

Titiksha C. · Відгук надано більше 1 року тому

Janaki Rama Siva Sesha Sai T. · Відгук надано більше 1 року тому

Indrajit B. · Відгук надано більше 1 року тому

Renuka R. · Відгук надано більше 1 року тому

Ahmad Satya W. · Відгук надано більше 1 року тому

Deepak G. · Відгук надано більше 1 року тому

Satyam K. · Відгук надано більше 1 року тому

Ferdian K. · Відгук надано більше 1 року тому

Anurag S. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek P. · Відгук надано більше 1 року тому

Hajee A. · Відгук надано більше 1 року тому

ytrt

Arun P. · Відгук надано більше 1 року тому

Nusa B. · Відгук надано більше 1 року тому

Sukanya M. · Відгук надано більше 1 року тому

done

Amol C. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhinav w. · Відгук надано більше 1 року тому