Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Aditya M. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashutosh N. · Відгук надано більше 1 року тому

Parvez Thabarak V. · Відгук надано більше 1 року тому

Riya K. · Відгук надано більше 1 року тому

Goutham R G. · Відгук надано більше 1 року тому

Atharv R. · Відгук надано більше 1 року тому

Het K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

Arya B. · Відгук надано більше 1 року тому

Riya K. · Відгук надано більше 1 року тому

Riyu S. · Відгук надано більше 1 року тому

BRAMAN T. · Відгук надано більше 1 року тому

Harsh C. · Відгук надано більше 1 року тому

Avinash N. · Відгук надано більше 1 року тому

Sasi K. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditia P. · Відгук надано більше 1 року тому

Avijit G. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad Dzakwan A. · Відгук надано більше 1 року тому

Gagan M. · Відгук надано більше 1 року тому

Great

Suraj J. · Відгук надано більше 1 року тому

Lavannya D. · Відгук надано більше 1 року тому

Sneha G. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshitha K. · Відгук надано більше 1 року тому

Janhavi P. · Відгук надано більше 1 року тому

Snigdha H. · Відгук надано більше 1 року тому

Alvin S. · Відгук надано більше 1 року тому