Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Najiya S. · Відгук надано більше 1 року тому

Yuraj S. · Відгук надано більше 1 року тому

Anamay S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubham S. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

Donthula S. · Відгук надано більше 1 року тому

Asim B. · Відгук надано більше 1 року тому

Aakriti B. · Відгук надано більше 1 року тому

NAVEEN J. · Відгук надано більше 1 року тому

Sunny K. · Відгук надано більше 1 року тому

Praful P. · Відгук надано більше 1 року тому

Sipra S. · Відгук надано більше 1 року тому

Helma T. · Відгук надано більше 1 року тому

Manjunath L. · Відгук надано більше 1 року тому

Nisaa A. · Відгук надано більше 1 року тому

Pavan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sejal S. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Rakhi G. · Відгук надано більше 1 року тому

Nadine v. · Відгук надано більше 1 року тому

CMVaishnavi G. · Відгук надано більше 1 року тому

Krishnanunni S. · Відгук надано більше 1 року тому

Surender N. · Відгук надано більше 1 року тому

Jayesh P. · Відгук надано більше 1 року тому

Soumya M. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhaiu S. · Відгук надано більше 1 року тому

DHAIRYA S. · Відгук надано більше 1 року тому