Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Subhojeet G. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhruv P. · Відгук надано більше 1 року тому

Rizwan A. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya A. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek R. · Відгук надано більше 1 року тому

Rifaldi Iqbal B. · Відгук надано більше 1 року тому

Syahrani Puspita W. · Відгук надано більше 1 року тому

U20EE055 O. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanishq Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Sourabh G. · Відгук надано більше 1 року тому

PASSED p

ARBIND KUMAR G. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubhabrata C. · Відгук надано більше 1 року тому

Raza I. · Відгук надано більше 1 року тому

Harsh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya K. · Відгук надано більше 1 року тому

AyÛsH K. · Відгук надано більше 1 року тому

Tuhin R. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreyosree R. · Відгук надано більше 1 року тому

Md S. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek V. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Mamba R. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya Narayan P. · Відгук надано більше 1 року тому

Shuvam D. · Відгук надано більше 1 року тому

Nada Satya . · Відгук надано більше 1 року тому

Shuvam D. · Відгук надано більше 1 року тому