Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Rohit R. · Відгук надано більше 1 року тому

Pooja K. · Відгук надано більше 1 року тому

Bhavya S. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

Ashok G. · Відгук надано більше 1 року тому

Manideep G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ansh P. · Відгук надано більше 1 року тому

Jinkala H. · Відгук надано більше 1 року тому

shruti p. · Відгук надано більше 1 року тому

Sandesh D. · Відгук надано більше 1 року тому

Palak M L. · Відгук надано більше 1 року тому

Dewansh Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Shashmitha V. · Відгук надано більше 1 року тому

Vedant B. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubh A. · Відгук надано більше 1 року тому

Sparsh M. · Відгук надано більше 1 року тому

zcloud s. · Відгук надано більше 1 року тому

Raza I. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

ASHISH S. · Відгук надано більше 1 року тому

Manjeet Kumar M. · Відгук надано більше 1 року тому

HANE Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhhamad W. · Відгук надано більше 1 року тому

ADITI SANJAY P. · Відгук надано більше 1 року тому

Samina B. · Відгук надано більше 1 року тому

Magelhaens G. · Відгук надано більше 1 року тому

Kamal G. · Відгук надано більше 1 року тому