Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

good lab

sonu k. · Відгук надано більше 1 року тому

ali s. · Відгук надано більше 1 року тому

sonu k. · Відгук надано більше 1 року тому

mantab

misbah a. · Відгук надано більше 1 року тому

Andi W. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad Naufal R. · Відгук надано більше 1 року тому

Ayush R. · Відгук надано більше 1 року тому

Timothy J. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya Pratama N. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashmit S. · Відгук надано більше 1 року тому

Larynt Sawfa K. · Відгук надано більше 1 року тому

Edson Mokiu Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Iky -. · Відгук надано більше 1 року тому

Very Well Satisfied.

syed z. · Відгук надано більше 1 року тому

Satisfied Very Well.

syed Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Prerna R. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammed S. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammed S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sandip m. · Відгук надано більше 1 року тому

Ali M. · Відгук надано більше 1 року тому

Anchal P. · Відгук надано більше 1 року тому

gdsc a. · Відгук надано більше 1 року тому

Shaik Faraaz B. · Відгук надано більше 1 року тому

Aqsa P. · Відгук надано більше 1 року тому

Aqsa P. · Відгук надано більше 1 року тому