Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Sumit prasad G. · Відгук надано більше 1 року тому

AJAY C. · Відгук надано більше 1 року тому

too good

Ahab A. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammed Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Chaitanya Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Reynaldy N. · Відгук надано більше 1 року тому

DEEPSHIKHA G. · Відгук надано більше 1 року тому

sial l. · Відгук надано більше 1 року тому

Mahesh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Amisha Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Djie V. · Відгук надано більше 1 року тому

shubham m. · Відгук надано більше 1 року тому

sai g. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammed Niyas G. · Відгук надано більше 1 року тому

Subham K. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

Bhagyashree B. · Відгук надано більше 1 року тому

Rushikesh B. · Відгук надано більше 1 року тому

Rakesh T. · Відгук надано більше 1 року тому

I Gusti Bagus P. · Відгук надано більше 1 року тому

Srinidhi A. · Відгук надано більше 1 року тому

MANU R. · Відгук надано більше 1 року тому

RUMPA P. · Відгук надано більше 1 року тому

Shivam S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shivam K. · Відгук надано більше 1 року тому

Dushant T. · Відгук надано більше 1 року тому