Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Mohamed A. · Відгук надано більше 1 року тому

Shilpi S. · Відгук надано більше 1 року тому

Jalatarapu A. · Відгук надано більше 1 року тому

Swetha M. · Відгук надано більше 1 року тому

Shabd B. · Відгук надано більше 1 року тому

SHAHAB K. · Відгук надано більше 1 року тому

Manjunath H. · Відгук надано більше 1 року тому

Hashim E. · Відгук надано більше 1 року тому

Harshit G. · Відгук надано більше 1 року тому

Rahul S. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhananjay M. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

Satyam J. · Відгук надано більше 1 року тому

Arun T. · Відгук надано більше 1 року тому

Etherman N. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Eka W. · Відгук надано більше 1 року тому

Dany K. · Відгук надано більше 1 року тому

Jui P. · Відгук надано більше 1 року тому

OMKARA ANJANEYA KUMAR R. · Відгук надано більше 1 року тому

Saniya I. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Arch N. · Відгук надано більше 1 року тому

Tapasya B. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Saurabh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Rozin A. · Відгук надано більше 1 року тому

MURARI K. · Відгук надано більше 1 року тому

Siddharth mohapatra G. · Відгук надано більше 1 року тому