Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

JSF R. · Відгук надано більше 1 року тому

Aanchal K. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Anand S. · Відгук надано більше 1 року тому

Eshan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Malihah R. · Відгук надано більше 1 року тому

KOMMAVARAPU V. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaibhav P. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhananjay M. · Відгук надано більше 1 року тому

Ardra G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ramya C. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya k. · Відгук надано більше 1 року тому

Grishma G. · Відгук надано більше 1 року тому

Sahanur A. · Відгук надано більше 1 року тому

Ritu S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreya D. · Відгук надано більше 1 року тому

Ankit K. · Відгук надано більше 1 року тому

Anshima _. · Відгук надано більше 1 року тому

Priya P. · Відгук надано більше 1 року тому

Richard Alvin P. · Відгук надано більше 1 року тому

Satyam S. · Відгук надано більше 1 року тому

Himanshu H. · Відгук надано більше 1 року тому

Hemanshi M. · Відгук надано більше 1 року тому

Ankush N. · Відгук надано більше 1 року тому

Kallu K. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

Sadew N. · Відгук надано більше 1 року тому