Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Lubdha D. · Відгук надано більше 1 року тому

Anisha B. · Відгук надано більше 1 року тому

cannot submit challenge 1

erick s. · Відгук надано більше 1 року тому

M G. · Відгук надано більше 1 року тому

Container not found. Please deploy the exported Cosmetic Inspection anomaly detection solution artifact and name the container as mobile_inspection.

Kratik K. · Відгук надано більше 1 року тому

-

Faizar S. · Відгук надано більше 1 року тому

Pranali J. · Відгук надано більше 1 року тому

Mark H. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanishka m. · Відгук надано більше 1 року тому

Sagar k. · Відгук надано більше 1 року тому

Ajith R. · Відгук надано більше 1 року тому

Rhythm G. · Відгук надано більше 1 року тому

Kalpesh S. · Відгук надано більше 1 року тому

SIYON V. · Відгук надано більше 1 року тому

Mandeep D. · Відгук надано більше 1 року тому

Ankita G. · Відгук надано більше 1 року тому

Dadak N. · Відгук надано більше 1 року тому

Tian P. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Prajakta Kapote G. · Відгук надано більше 1 року тому

Dipayan D. · Відгук надано більше 1 року тому

Sai Ganesh C. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek p. · Відгук надано більше 1 року тому

Agrawal K. · Відгук надано більше 1 року тому

JS R. · Відгук надано більше 1 року тому

JS2 R. · Відгук надано більше 1 року тому