Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Chandu V. · Відгук надано більше 1 року тому

Nancy D. · Відгук надано більше 1 року тому

Malcolm S. · Відгук надано більше 1 року тому

Swapnadip S. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek R. · Відгук надано більше 1 року тому

Adith K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sadaf K. · Відгук надано більше 1 року тому

tarun s. · Відгук надано більше 1 року тому

Baibhab A. · Відгук надано більше 1 року тому

Ajay k. · Відгук надано більше 1 року тому

Abdul N. · Відгук надано більше 1 року тому

mj 9. · Відгук надано більше 1 року тому

Murthy P. · Відгук надано більше 1 року тому

mj 9. · Відгук надано більше 1 року тому

Albertus V. · Відгук надано більше 1 року тому

Krithik Gokul S. · Відгук надано більше 1 року тому

Gurleen K. · Відгук надано більше 1 року тому

Arush J. · Відгук надано більше 1 року тому

Albertus V. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Ashiq B. · Відгук надано більше 1 року тому

Rain J. · Відгук надано більше 1 року тому

Sakshi K. · Відгук надано більше 1 року тому

Akhmad Thalibar R. · Відгук надано більше 1 року тому

Sana M. · Відгук надано більше 1 року тому

Vanshita S. · Відгук надано більше 1 року тому