Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Grishma G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ram B. · Відгук надано більше 1 року тому

Parveen Kumar R. · Відгук надано більше 1 року тому

Simran G. · Відгук надано більше 1 року тому

Achal S. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhijit B. · Відгук надано більше 1 року тому

Philip J. · Відгук надано більше 1 року тому

Azis M. · Відгук надано більше 1 року тому

Aayushi M. · Відгук надано більше 1 року тому

Surenthiranath G. · Відгук надано більше 1 року тому

justyt t. · Відгук надано більше 1 року тому

Tania S. · Відгук надано більше 1 року тому

Muh. Syarief M. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhijeet v. · Відгук надано більше 1 року тому

Soumyadip M. · Відгук надано більше 1 року тому

Abdul B. · Відгук надано більше 1 року тому

Arcade S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sandy A. · Відгук надано більше 1 року тому

Aryadeep M. · Відгук надано більше 1 року тому

Debasrita C. · Відгук надано більше 1 року тому

Popuri V. · Відгук надано більше 1 року тому

Sandy A. · Відгук надано більше 1 року тому

Likhitha Lavanya B. · Відгук надано більше 1 року тому

Aryadeep M. · Відгук надано більше 1 року тому

Ravi M. · Відгук надано більше 1 року тому