Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Ipsita S. · Відгук надано більше 1 року тому

Navya V. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhijeet R. · Відгук надано більше 1 року тому

Bikash B. · Відгук надано більше 1 року тому

Manvi G. · Відгук надано більше 1 року тому

Cindy B. · Відгук надано більше 1 року тому

Namikaze M. · Відгук надано більше 1 року тому

rico u. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhruv D. · Відгук надано більше 1 року тому

Gaurav K. · Відгук надано більше 1 року тому

Soumyadip G. · Відгук надано більше 1 року тому

Nasrullah N. · Відгук надано більше 1 року тому

Ravindar P. · Відгук надано більше 1 року тому

Rupam D. · Відгук надано більше 1 року тому

Gopa B. · Відгук надано більше 1 року тому

RAHUL D. · Відгук надано більше 1 року тому

Raza A. · Відгук надано більше 1 року тому

Muskan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Rui G. · Відгук надано більше 1 року тому

Parivarsha G. · Відгук надано більше 1 року тому

Windaru W. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Anurag C. · Відгук надано більше 1 року тому

Adi S. · Відгук надано більше 1 року тому

716_Siddhant K. · Відгук надано більше 1 року тому

Gopika B. · Відгук надано більше 1 року тому