Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Kaushal K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nasny N. · Відгук надано більше 1 року тому

Very Good

Ali H. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubham K. · Відгук надано більше 1 року тому

Devansh S. · Відгук надано більше 1 року тому

BUKU G. · Відгук надано більше 1 року тому

Sireesha G. · Відгук надано більше 1 року тому

CHAKKA NAGA VENKATA SATYA S. · Відгук надано більше 1 року тому

Isha J. · Відгук надано більше 1 року тому

Greeshma M. · Відгук надано більше 1 року тому

Manali C. · Відгук надано більше 1 року тому

Hoza M. · Відгук надано більше 1 року тому

Lokesh D. · Відгук надано більше 1 року тому

Nidhi R. · Відгук надано більше 1 року тому

Aman S. · Відгук надано більше 1 року тому

Amit s K. · Відгук надано більше 1 року тому

DAVID ROSARIO SELVARAJ U. · Відгук надано більше 1 року тому

anish j. · Відгук надано більше 1 року тому

IMAN S. · Відгук надано більше 1 року тому

Wildan F. · Відгук надано більше 1 року тому

Lokeshwari V. · Відгук надано більше 1 року тому

WorkHard S. · Відгук надано більше 1 року тому

Tejjan A. · Відгук надано більше 1 року тому

Andry Syva M. · Відгук надано більше 1 року тому

Pradip G. · Відгук надано більше 1 року тому