Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Pratik M. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Aditya Mohan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Suneel P. · Відгук надано більше 1 року тому

Chandan C. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhijeet M. · Відгук надано більше 1 року тому

Robin D. · Відгук надано більше 1 року тому

R K. · Відгук надано більше 1 року тому

KINJAL K. · Відгук надано більше 1 року тому

Jayesh P. · Відгук надано більше 1 року тому

Riki W. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubham B. · Відгук надано більше 1 року тому

Riki W. · Відгук надано більше 1 року тому

Subhrajyoti P. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad Yusuf R. · Відгук надано більше 1 року тому

Seershika B. · Відгук надано більше 1 року тому

Great

Dwi Putri A S. · Відгук надано більше 1 року тому

Akash M. · Відгук надано більше 1 року тому

Akash S. · Відгук надано більше 1 року тому

Maila F. · Відгук надано більше 1 року тому

Vinay J. · Відгук надано більше 1 року тому

14_P. M.Rajkumar R. · Відгук надано більше 1 року тому

Sougata S. · Відгук надано більше 1 року тому

Chayan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Phantom B. · Відгук надано більше 1 року тому

Nichol N. · Відгук надано більше 1 року тому