Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Wei Loon T. · Відгук надано більше 1 року тому

Adarsh K. · Відгук надано більше 1 року тому

JAVVAJI B. · Відгук надано більше 1 року тому

Akash P. · Відгук надано більше 1 року тому

Honey S. · Відгук надано більше 1 року тому

Krishi S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sakshi P. · Відгук надано більше 1 року тому

Soyamprangya R. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash Raj S. · Відгук надано більше 1 року тому

gud

Rishabh R. · Відгук надано більше 1 року тому

Eko Budiono W. · Відгук надано більше 1 року тому

MOHAMMAD MIRAN K. · Відгук надано більше 1 року тому

Divya S. · Відгук надано більше 1 року тому

Taufik H. · Відгук надано більше 1 року тому

Aakash C. · Відгук надано більше 1 року тому

Ko Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Mayur C. · Відгук надано більше 1 року тому

Vasu R. · Відгук надано більше 1 року тому

Luqman H. · Відгук надано більше 1 року тому

Maulid C. · Відгук надано більше 1 року тому

Good Lab

Paulo Roberto C. · Відгук надано більше 1 року тому

Akkiy C. · Відгук надано більше 1 року тому

GOOD

Avinash K. · Відгук надано більше 1 року тому

Jeffri J. · Відгук надано більше 1 року тому

Sumiran G. · Відгук надано більше 1 року тому