Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Gola F. · Відгук надано більше 1 року тому

Art C. · Відгук надано більше 1 року тому

Alka Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Alka G. · Відгук надано більше 1 року тому

Alka Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Kshatri S. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad F. · Відгук надано більше 1 року тому

Trie Sony K. · Відгук надано більше 1 року тому

Jah S. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad R. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

Mythrisri K. · Відгук надано більше 1 року тому

W Adhitya G. · Відгук надано більше 1 року тому

Satya Reddy K. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshay K. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash G. · Відгук надано більше 1 року тому

Piyush S. · Відгук надано більше 1 року тому

saad s. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhinaya P. · Відгук надано більше 1 року тому

Mayank A. · Відгук надано більше 1 року тому

Nida'an K. · Відгук надано більше 1 року тому

Arun P. · Відгук надано більше 1 року тому

SRISHTI P. · Відгук надано більше 1 року тому

Fake M. · Відгук надано більше 1 року тому

Saurabh s. · Відгук надано більше 1 року тому

Arun P. · Відгук надано більше 1 року тому