Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Navaneed G. · Відгук надано більше 1 року тому

Prem K. · Відгук надано більше 1 року тому

Udayakrishna D. · Відгук надано більше 1 року тому

jjnjnj

Sandeep S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sahil Prasad G. · Відгук надано більше 1 року тому

Alvaro G. · Відгук надано більше 1 року тому

athul m. · Відгук надано більше 1 року тому

Purva D. · Відгук надано більше 1 року тому

Kanav S. · Відгук надано більше 1 року тому

Fariz A. · Відгук надано більше 1 року тому

LULU S. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Tanish g. · Відгук надано більше 1 року тому

Hasyim Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Tushar J. · Відгук надано більше 1 року тому

Chetana M. · Відгук надано більше 1 року тому

Shristi T. · Відгук надано більше 1 року тому

Mogga M. · Відгук надано більше 1 року тому

Alvian H. · Відгук надано більше 1 року тому

Prathamesh P. · Відгук надано більше 1 року тому

sneha g. · Відгук надано більше 1 року тому

Lucky S. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya J. · Відгук надано більше 1 року тому

Anushka S. · Відгук надано більше 1 року тому

Utkarsh B. · Відгук надано більше 1 року тому

best

CSE_Subhrajyoti B. · Відгук надано більше 1 року тому