Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

LOGESHWARAN R. · Відгук надано більше 1 року тому

Tejas B. · Відгук надано більше 1 року тому

rishikesh c. · Відгук надано більше 1 року тому

Rangayyagari S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashupal D. · Відгук надано більше 1 року тому

wahyu s. · Відгук надано більше 1 року тому

Ramjas K. · Відгук надано більше 1 року тому

Death shadow 9. · Відгук надано більше 1 року тому

Death Shadow 9. · Відгук надано більше 1 року тому

AFIAN F. · Відгук надано більше 1 року тому

Sudhanshu D. · Відгук надано більше 1 року тому

Bisweswar S. · Відгук надано більше 1 року тому

Abel K. · Відгук надано більше 1 року тому

Imran A. · Відгук надано більше 1 року тому

MOHD T. · Відгук надано більше 1 року тому

Tech with Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Niyatee Rashmee S. · Відгук надано більше 1 року тому

M. Dzikri M. · Відгук надано більше 1 року тому

Deekshitha G. · Відгук надано більше 1 року тому

Al-Fariqy R. · Відгук надано більше 1 року тому

Tech with Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Soumya G. · Відгук надано більше 1 року тому

Zohaib K. · Відгук надано більше 1 року тому

Alfiya T. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaishnavi K. · Відгук надано більше 1 року тому