Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Prashant K. · Відгук надано більше 1 року тому

Carlos P. · Відгук надано більше 1 року тому

Priya B. · Відгук надано більше 1 року тому

Ravi R. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohit K. · Відгук надано більше 1 року тому

Simar Preet S. · Відгук надано більше 1 року тому

Tedy R. · Відгук надано більше 1 року тому

Stephen A. · Відгук надано більше 1 року тому

Yusuf R. · Відгук надано більше 1 року тому

Devesh U. · Відгук надано більше 1 року тому

Carlos d. · Відгук надано більше 1 року тому

govind l. · Відгук надано більше 1 року тому

Aakriti M. · Відгук надано більше 1 року тому

Akash G. · Відгук надано більше 1 року тому

Yarramreddy H. · Відгук надано більше 1 року тому

Bijay Prasad S. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

Riya D. · Відгук надано більше 1 року тому

Taha S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sumanta J. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshay K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sachin D. · Відгук надано більше 1 року тому

Chhavi 0. · Відгук надано більше 1 року тому

Sakshi S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rashi S. · Відгук надано більше 1 року тому

ANUPAM D. · Відгук надано більше 1 року тому