Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Parthiv K. · Відгук надано більше 1 року тому

Anugrah D. · Відгук надано більше 1 року тому

raj G. · Відгук надано більше 1 року тому

Hasbi H. · Відгук надано більше 1 року тому

Fani W. · Відгук надано більше 1 року тому

NIKITA J. · Відгук надано більше 1 року тому

cool

Makmurry A. · Відгук надано більше 1 року тому

Ashreen T. · Відгук надано більше 1 року тому

A M. · Відгук надано більше 1 року тому

kavya m. · Відгук надано більше 1 року тому

Anugrah D. · Відгук надано більше 1 року тому

Soudipta M. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikhil A. · Відгук надано більше 1 року тому

Janvi G. · Відгук надано більше 1 року тому

Pawan S. · Відгук надано більше 1 року тому

tanmayee k. · Відгук надано більше 1 року тому

Abel M. · Відгук надано більше 1 року тому

Akash P. · Відгук надано більше 1 року тому

Janak M. · Відгук надано більше 1 року тому

nn

Harshi R. · Відгук надано більше 1 року тому

Rujuta D. · Відгук надано більше 1 року тому

Sudhakar S. · Відгук надано більше 1 року тому

Tejaswi P. · Відгук надано більше 1 року тому

R.V. Darsan G. · Відгук надано більше 1 року тому

HETVI R. · Відгук надано більше 1 року тому