Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Preeti D. · Відгук надано більше 1 року тому

Vanshika J. · Відгук надано більше 1 року тому

Muskan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Keshav A. · Відгук надано більше 1 року тому

Muskan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Ankisha G. · Відгук надано більше 1 року тому

Harshada P. · Відгук надано більше 1 року тому

Sudarsh C. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubhansh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

SUMIT S. · Відгук надано більше 1 року тому

Arya G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ari P. · Відгук надано більше 1 року тому

Ishika B. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad R. · Відгук надано більше 1 року тому

Vanshika v. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohini B. · Відгук надано більше 1 року тому

SK DULAL I. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek P. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanisha G. · Відгук надано більше 1 року тому

Suresh V. · Відгук надано більше 1 року тому

Nabamit D. · Відгук надано більше 1 року тому

SonGokū ゴ. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya N. · Відгук надано більше 1 року тому

Chirayu V. · Відгук надано більше 1 року тому

KARTIKEY N. · Відгук надано більше 1 року тому