Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Priyanka S. · Відгук надано більше 1 року тому

22501A1267 M. · Відгук надано більше 1 року тому

Harshil S. · Відгук надано більше 1 року тому

Harshil S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shashikanth R. · Відгук надано більше 1 року тому

Md Junaid Aqdas A. · Відгук надано більше 1 року тому

Abdullah Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Ayushi K. · Відгук надано більше 1 року тому

Raffel R. · Відгук надано більше 1 року тому

Swapnilshikha B. · Відгук надано більше 1 року тому

Gauri B. · Відгук надано більше 1 року тому

RAUSHAN K. · Відгук надано більше 1 року тому

Vitthal K. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhamad S. · Відгук надано більше 1 року тому

Anand K. · Відгук надано більше 1 року тому

Jaya K. · Відгук надано більше 1 року тому

Tushar M. · Відгук надано більше 1 року тому

Anand K. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubham N. · Відгук надано більше 1 року тому

Mahak N. · Відгук надано більше 1 року тому

Kaveri D. · Відгук надано більше 1 року тому

Meeraja K. · Відгук надано більше 1 року тому

Shaik Hakeem S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ravneet K. · Відгук надано більше 1 року тому

Ajinkya J. · Відгук надано більше 1 року тому