Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Mukesh S. · Відгук надано більше 1 року тому

Yogesh .. · Відгук надано більше 1 року тому

sonu s. · Відгук надано більше 1 року тому

Sakshi K. · Відгук надано більше 1 року тому

Darsh D. · Відгук надано більше 1 року тому

Bhanwar L. · Відгук надано більше 1 року тому

SEEMA S. · Відгук надано більше 1 року тому

Pawan P. · Відгук надано більше 1 року тому

Shashidhara S. · Відгук надано більше 1 року тому

Koushik D. · Відгук надано більше 1 року тому

Nishtha J. · Відгук надано більше 1 року тому

Aanchal p. · Відгук надано більше 1 року тому

S ARABINDA R. · Відгук надано більше 1 року тому

Sahiba T. · Відгук надано більше 1 року тому

srashti s. · Відгук надано більше 1 року тому

Karan C. · Відгук надано більше 1 року тому

prince c. · Відгук надано більше 1 року тому

Reehana J. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubham K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nakshatra R. · Відгук надано більше 1 року тому

Adrija H. · Відгук надано більше 1 року тому

Vivek K. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanmay C. · Відгук надано більше 1 року тому

RESHMA Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Arjuna M. · Відгук надано більше 1 року тому