Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Kanishka P. · Відгук надано більше 1 року тому

Akhilraju K. · Відгук надано більше 1 року тому

nikhitha a. · Відгук надано більше 1 року тому

Benzene 6242 A. · Відгук надано більше 1 року тому

Nitesh K. · Відгук надано більше 1 року тому

dev l. · Відгук надано більше 1 року тому

Pradeep N. · Відгук надано більше 1 року тому

Done

Shubham P. · Відгук надано більше 1 року тому

ASMA F. · Відгук надано більше 1 року тому

Gorla Sai Praneeth R. · Відгук надано більше 1 року тому

Surya P. · Відгук надано більше 1 року тому

Jacek S. · Відгук надано більше 1 року тому

Piyush C. · Відгук надано більше 1 року тому

Madhura B. · Відгук надано більше 1 року тому

Bayu Rahmat K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikita S. · Відгук надано більше 1 року тому

Harshal H. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshat J. · Відгук надано більше 1 року тому

Subhojit N. · Відгук надано більше 1 року тому

Namrata T. · Відгук надано більше 1 року тому

Subabrota P. · Відгук надано більше 1 року тому

Pallavi S. · Відгук надано більше 1 року тому

Bhavya M. · Відгук надано більше 1 року тому

Soudipta M. · Відгук надано більше 1 року тому

Ujjwal M. · Відгук надано більше 1 року тому