Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

John K. · Відгук надано більше 1 року тому

Debjit B. · Відгук надано більше 1 року тому

Agniva S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sam L. · Відгук надано більше 1 року тому

Han L. · Відгук надано більше 1 року тому

Rajnandini S. · Відгук надано більше 1 року тому

Appu S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sai krishna V. · Відгук надано більше 1 року тому

Yash T. · Відгук надано більше 1 року тому

Samiran M. · Відгук надано більше 1 року тому

Disha Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Bit B. · Відгук надано більше 1 року тому

Vanshika F. · Відгук надано більше 1 року тому

DHUPAL CHANDRA D. · Відгук надано більше 1 року тому

vamshikrishna g. · Відгук надано більше 1 року тому

Deep D. · Відгук надано більше 1 року тому

Deep D. · Відгук надано більше 1 року тому

ffghjkl

Yogesh R. · Відгук надано більше 1 року тому

Adam M. · Відгук надано більше 1 року тому

Hemanth R. · Відгук надано більше 1 року тому

Vivank J. · Відгук надано більше 1 року тому

Ishwari s. · Відгук надано більше 1 року тому

Jay M. · Відгук надано більше 1 року тому

Zabee A. · Відгук надано більше 1 року тому

Priyanka D. · Відгук надано більше 1 року тому