Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Mohammed Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Ekta V. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreyas P. · Відгук надано більше 1 року тому

Fajar I. · Відгук надано більше 1 року тому

Anand J. · Відгук надано більше 1 року тому

Nikita S. · Відгук надано більше 1 року тому

vineeth k. · Відгук надано більше 1 року тому

Vineet K. · Відгук надано більше 1 року тому

Rifan A. · Відгук надано більше 1 року тому

BACKBENCHER B. · Відгук надано більше 1 року тому

Arjun S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shubham J. · Відгук надано більше 1 року тому

Raj S. · Відгук надано більше 1 року тому

Umme Athiya N. · Відгук надано більше 1 року тому

gg

Pallavi P. · Відгук надано більше 1 року тому

Iqra A. · Відгук надано більше 1 року тому

wahid h. · Відгук надано більше 1 року тому

hughfuighfuisdhg

PRAKHAR A. · Відгук надано більше 1 року тому

Difa S. · Відгук надано більше 1 року тому

fadhl a. · Відгук надано більше 1 року тому

Vishwa P. · Відгук надано більше 1 року тому

Lil F. · Відгук надано більше 1 року тому

urbi c. · Відгук надано більше 1 року тому

Kuldeep S. · Відгук надано більше 1 року тому

Urbi C. · Відгук надано більше 1 року тому