Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Harendra P. · Відгук надано більше 1 року тому

Manish N. · Відгук надано більше 1 року тому

Prashant T. · Відгук надано більше 1 року тому

Akshat J. · Відгук надано більше 1 року тому

Rishab J. · Відгук надано більше 1 року тому

Ravneet K. · Відгук надано більше 1 року тому

Amritansh S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ramsha S. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Payal P. · Відгук надано більше 1 року тому

Akash V. · Відгук надано більше 1 року тому

Ahmad I. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditi N. · Відгук надано більше 1 року тому

Rashida R. · Відгук надано більше 1 року тому

Rashida R. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya Pratap S. · Відгук надано більше 1 року тому

Akhil K. · Відгук надано більше 1 року тому

Agustinus Angelo Christian F. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad F. · Відгук надано більше 1 року тому

Aryan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Himanshu R. · Відгук надано більше 1 року тому

Nanang H. · Відгук надано більше 1 року тому

Dharmik P. · Відгук надано більше 1 року тому

Omkar R. · Відгук надано більше 1 року тому

Subham P. · Відгук надано більше 1 року тому

Jalwan A. · Відгук надано більше 1 року тому