Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Dipal R. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammad Bilal P. · Відгук надано більше 1 року тому

vinothini R. · Відгук надано більше 1 року тому

TEJASRI V. · Відгук надано більше 1 року тому

Beni -. · Відгук надано більше 1 року тому

Praveena rajeswari devi P. · Відгук надано більше 1 року тому

Ayush T. · Відгук надано більше 1 року тому

DJ D. · Відгук надано більше 1 року тому

Manasa V. · Відгук надано більше 1 року тому

RITURAJ K. · Відгук надано більше 1 року тому

Faiq F. · Відгук надано більше 1 року тому

PRIYANSHU C. · Відгук надано більше 1 року тому

Chetan g. · Відгук надано більше 1 року тому

namrata m. · Відгук надано більше 1 року тому

Anush R. · Відгук надано більше 1 року тому

Smit D. · Відгук надано більше 1 року тому

Praveen S. · Відгук надано більше 1 року тому

Dharmesh V. · Відгук надано більше 1 року тому

Shauryaveer V. · Відгук надано більше 1 року тому

Veena P. · Відгук надано більше 1 року тому

Sarthak G. · Відгук надано більше 1 року тому

RAGINI KUMARI P. · Відгук надано більше 1 року тому

Umesh B. · Відгук надано більше 1 року тому

Prima S. · Відгук надано більше 1 року тому

P Padarabinda D. · Відгук надано більше 1 року тому