Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Arosh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Sainath G. · Відгук надано більше 1 року тому

Rahi P. · Відгук надано більше 1 року тому

Kunal D. · Відгук надано більше 1 року тому

Satyam M. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

Om K. · Відгук надано більше 1 року тому

pranita n. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhra T. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditi G. · Відгук надано більше 1 року тому

AMARESWAR CHOWDARY N. · Відгук надано більше 1 року тому

BIDISHA SONUSAUMYA B. · Відгук надано більше 1 року тому

pratik b. · Відгук надано більше 1 року тому

Tadvab P. · Відгук надано більше 1 року тому

Zam Walton P M G. · Відгук надано більше 1 року тому

konduru k. · Відгук надано більше 1 року тому

Padala P. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohit Sridhar L. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohit Sridhar L. · Відгук надано більше 1 року тому

Saumitra P. · Відгук надано більше 1 року тому

Anshul C. · Відгук надано більше 1 року тому

Athira S. · Відгук надано більше 1 року тому

agung d. · Відгук надано більше 1 року тому

Pranshu S. · Відгук надано більше 1 року тому

Shruti Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Arpita S. · Відгук надано більше 1 року тому